Метод: ионно-лучевое послойное травление Размеры образца (кросс-секционирование): от 3*3*0,7 мм до 10*10*4,0 мм Размеры образца (планарная обработка): диам [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] 50 мм*В 25 мм [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Тестирование полупроводниковых пластин [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Производитель: Fischione Instruments, Inc [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] МИНАТЕХ завершил поставку и внедрение спектроскопического эллипсометра от Ellitop [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] XD-160 [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] 24 июля 2020 [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.]


Ответить с цитированием