Оборудование для производства микроэлектроники в НПО ДиОД [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Метод: ионно-лучевое послойное травление Размеры образца (кросс-секционирование): от 3*3*0,7 мм до 10*10*4,0 мм Размеры образца (планарная обработка): диам [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] 32 мм*В 25 мм [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Данные печи предназначены для высокотемпературной обработки полупроводниковых пластин и подложек диаметром до100 мм и могут применяться для различных процессов в условиях как лабораторного, так и мелкосерийного производства [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Загрузка подложек в рабочую [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Цена по запросу --> Подробнее [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Модель инспекционного микроскопа MX12R оснащена 12- дюймовой рабочей платформой с держателями 4, 6, 8 и 12 дюймов и применяется для инспекции полупроводниковых пластин диаметром до 300мм и плоских дисплеев с диагональю до 17 дюймов [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.] Основные преимущества Схема инспекционного микроскопа MX12R Основные технические характеристики инспекционного микроскопа MX12R Оптическая система скорректированная на бесконечность Режим наблюдения светлое поле […] Бюджетная установка Condor Sigma LITE обеспечивает высокую производительность сохраняя задел на буду [Только для зарегистрированных пользователей. Зарегистрироваться.]